Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: http://192.168.1.231:8080/dulieusoDIGITAL_123456789/4922
Title: Tách và xác định các nguyên tố đất hiếm trong lớp phủ bằng phương pháp sắc ký điện di mao quản ( CEC)
Authors: Đào Đức Hào
Issue Date: 2020
Publisher: Đại học Quốc gia Hà Nội
Abstract: Tổng quan về nguyên tố đất hiếm, các biện pháp bảo vệ chống ăn mòn kim loại, phương pháp photphat hóa, phương pháp tách và xác định các nguyên tố đất hiếm. Nghiên cứu chế tạo lớp phủ photphát hóa và khả năng loại trừ các yếu tố ảnh hưởng (loại trừ ảnh hƣởng của Sắt). Khảo sát ảnh hưởng của dung dịch đệm điện di; một số nguyên tố trong quá trình tách và xác định các nguyên tố đất hiếm; từ đó đánh giá chung về phép đo CE và xây dựng đƣờng chuẩn của các nguyên tố đất hiếm và phân tích mẫu lớp phủ photphot và mẫu lớp mạ Zn-Ni-NTĐH.
URI: http://192.168.1.231:8080/dulieusoDIGITAL_123456789/4922
Appears in Collections:Các chuyên ngành khác

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
01050000224.pdf527.64 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.